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xrf岩屑元素分析仪

gw-4040

gw-4040型xrf岩屑元素分析仪是利用初级x射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。将x射线荧光分析(xrf)用于岩屑录井是目前岩屑分析中最快速最便捷的技术,这项技术的独到之处在于:能过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性,再通过岩性的组合特征分析来判断层位.因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。


测量气体 al、si、p、s、cr、fe、mn、pb、zn、ca、ti、v、cu、sn等

测量范围 详情见技术指标表

应用领域 油气开采过程中的岩屑录井检测

产品特性
1、性能

高性能:优选进口x射线管以及高性能探测器,确保长期的稳定性以及准确度。

快响应:相对于传统的实验室化验等方式,光学检测手段可以一秒内可以进行多次检测。

长寿命:无需耗材,寿命最长可达5-8年,综合使用成本更低。

2、便利性

相对于传统类的实验室设备,我们的光学设备无需任何耗材以及辅助设备,方便在作业现场进行便携使用。为了更好的让客户在野外操作,设备还需抗震和牢固,我们首先给设备配备了拉杆式铝合金包装箱,让运输更安全。

其次整体光路模块采用整体不锈钢cnc一体加工,从来稳定性牢固性更好。

3、准确性

仪器集成了管压检测、温度检测,实时监控腔内的真空压力和温度,确保检测的精度。真空腔内置过滤隔离装置,仿制待测体的灰尘进入探测器探头和射线管端子,导致污染损坏。内置步进电机使样品环在检测过程中始终处于旋转状态,提供检测的准确度。

技术指标

分析元素

al、si、p、s、cr、fe、mn、pb、zn、ca、ti、v、cu、sn等

探测下限

al、si、p、s、ca:0.01%

ti、v、cr、fe、mn、pb、zn、cu、sn:0.001%

分析范围

0.0001%~100%

能量范围

1-30kev

采样时间

<180秒

重复性误差

≤±1%f.s

稳定性

≤±1%f.s

输出信号

rs-232&usb数字输出

配件

真空泵 笔记本电脑 压片机

外壳尺寸

355*250*380(长*宽*高)

重量

36kg

 *具体产品可能会有细微偏差  | 工作在温度25℃和1013 mbar 测试数据

技术原理

4040技术原理1.jpg1-技术原理

利用初级x射线光子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级x射线)。不同元素发出的特征x射线能量和波长各不相同,因此通过对x射线的能量或者波长的测量可以对元素进行定性的分析;同时样品受激发以后发射某一元素的特征x射线强度跟元素在样品中的含量有关,因此可以对元素进行定量分析。

2-光学结构

分析仪由如下光学技术平台构成,该技术平台由x射线管、真空仓、探测器等光学组件构成。x射线管发出的光直接照射在待测样品,激发待测物质中的原子,使之产生荧光,被探测器接收。

通过对荧光谱线进行分析,可以分析出待测样品中的元素成分和含量。

3-元素光谱

金属元素的光谱

不同元素的荧光x射线具有各自的特定波长,因此根据荧光x射线的波长可以确定元素的组成。x射线荧光就是被分析样品在x射线照射下发出的x射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对上述x射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是x射线荧光分析仪。

4-岩屑成分

可一次性实现多达十几种元素的快速、无损、准确分析。

自动稳谱,消除谱峰水可载舟漂移影响,精确度达98%以上。

集成大量数据库,并实时更新,目前可以识别岩屑成分多达上百种。


应用场景

gw-4040型xrf岩屑元素分析仪,是本公司针对石油气、天然气、煤层气、页岩气等清洁能源的开采而专门开发的高精度光学岩屑元素分析仪。可以很好的解决人工判断的误差性,以及传统设备的不便捷性,更好了为测录井提供原始数据。该设备小巧无辅助设备,目前在油田得到广大客户的使用。

产品主要用于以下场合:

● 油气钻井岩屑录井;

● 物探岩石检测等。

应用案例
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